上海市高新技术企业 高新技术成果转化项目 上海市计量制造许可单位 CQC ISO9001:2008 质量管理体系 上海硬度计技术-低价质高,造型精美,功能出色的优质硬度计制造商
在传统的广角光学落射荧光显微硬度计,标本发出二次荧光经常发生通过激发卷和掩盖的特点在于客观焦平面分辨率。
较厚的标本(大于2微米),这通常表现出这样的荧光高度的细的细节丢失的问题更为复杂。
共聚焦显微硬度计提供只有边际改善轴向(Z;沿光轴)和横向(x和y在试样的平面)光学分辨率,而且是能够排除在从焦平面从产生的图像区域的二次荧光。
即使分辨率有所提高共聚焦显微硬度计比传统的广角技术,它仍然是比透射电镜少。