光切维氏硬度计测量或光学截面表面粗糙度测量仪 对于不透明覆层厚度则应采吊有损测量。在这两种测量方法中,由于仪器的原因或使用不当,都可能影响测量结果的准确度.对于有损测量,若试样制备的质量不佳,则乏对测量结果产生影响。下面就有关影响因素加以叙述。 (1)表面粗糙度光学法测量覆层厚度一般都非常薄,因而要求基体表面的加工粗糙度很低,一定要非常平滑。如果覆层和基体表面粗糙,或者覆层和基体表面相对于覆层厚度是粗糙的,9lb在观察视场内,将由于覆层和基体的界面不规则,而不可能进行准确的测量。 (2)断面不正 当抛磨试样断面或加工台阶断面不垂直,在测量厚度时,可能会产生误差。在断面维氏硬度计测量中,一般每倾斜10°由此导致的误差达1.5%。 (3)覆层变形 在断面维氏硬度计和扫描电子维氏硬度计测量中,如对试样的镶嵌温度过高或压力过大,都有可能造成试样的覆层变形;对软覆层或低温易熔化覆层进行断面抛磨,以及对脆性材料过分砂磨,都可能造成覆罢变形,将会带来测量误差。 (4)覆层边缘磨圆 覆层断面边缘如被磨圆,则不成平面,这样在维氏硬度计观察就很难测出真实厚度。在试样镶嵌、研磨、抛光、浸蚀等操作中,如操作不适当都有可能导致边缘被磨圆.通常,在抛磨试样上加一层保护层,则可以防止边缘磨圆.(5)浸蚀:当浸蚀试样条件佳,将会在两种金属界面形成清晰的狭窄边界线。如果条件不佳,则边界线宽,也不清晰,因而不可能准确地测量。 (6)表面沾污 当抛光试样断面留有沾污的金属,特别是在铅、铟、金等软金属界面情况下容易发生,以致界面不易准确地测量。对此,一般采取多次抛光和多次测量的方法。 (7)对比度差当两种金属原子序数十分相近,如光亮镍和半光亮镍,在扫描电子维氏硬度计测量时,它们可见对比度差,除非浸蚀边界很清晰,以及采用适当的测试方法,否则是难以识别的.
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