与AFM相比SEM电子布氏硬度试验机是一种空间技术-3D表面重构 扫描电子布氏硬度试验机(SEM )具有突出的空间分辨率(-20 nm,与AFM相比较,SEM 可以提供从纳米到毫米相对宽的分析结果)。利用较短的波长(即高能量),可通过透射电子布氏硬度试验机(TEM )获得更高的分辨率。SEM 是一种空间技术,因而采集时间长,其缺陷在于缺乏扫描深度。但是,三维空间((3D)效果可以通过电子一材料互动模式逆向重建,即利用3D表面重构而获得。 在OPV 的研究中,SEM 通常被用于材料的形貌分析,从而优化OPV效率 这与AFM 的应用领域有些类似。SEM 也可用于分析OIV器件横截面。如果SEM 仪器装有聚焦离子束(FIB )源,那么可以获得更加直观的横截面,从而提高分析质量。 此外,SEM 仪器如果装有能量弥散X 射线探渊器(EDX ),有可能获得更加深人的化学信息。 但是,这仅限于结合FIB 和EDX 的SEM 对OPV 器件的特性进行表征的时候。EDX 探针长度大于器件的厚度,因此,EDX 的纵向分析使得电极灵敏度有所提高。 正因为如此,EDX 是更适用于横截面分析的一种方法。FIB 源在研究OPV 衰减过程中存在问题是, 具有高能量的离子束会导致OPV 电池中有机化合物的降解(例如,形态改变),这样使得结果变得复杂,难以解释。但是,FIB 对OPV电池的形响目前还尚未研究,所以在分析过程中,FIB 对OPV 的影响程度还不能确定。在实验条件下,横截面分析可以监测OPV 电池处于工作状态时叠层形态演变(例如中间层滋合)以及层厚度的增加/ 减少等重要信息。
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