扫描式荧光硬度计应用于分子生物学 无孔径近场扫描式显微术于萤光影像之研究 传统的光纤式近场光学硬度计受到截止效应、热伤害等问题影响，造成解析度有所限制， 因此可开发无孔径的近场光学扫描式硬度计(apertureless near-field scanning optical microscope，aNSOM)来突破。 其原理主要藉着原子力硬度计(atomic force microscope，AFM)的探针与入射光场作用，产生区域电场强化的效应， 与样品作用后产生一有效散射场。论文主要的研究是以AFM为基础，研制一套aNSOM， 期望其光学空间解析度可达到10nm以下，并将其应用于萤光样品的影像量测。 研发之aNSOM由于其收光的显微物镜位于远场侦测干涉后的高频干涉信号， 其信号包含针尖与奈米结构作用后的近场光学信号及远场的背景杂讯，为了增加影像的讯噪比(signal-to-noise ratio，SNR)， 利用距离调变技术且搭配自差式干涉(homodyne interferometry)与外差式干涉(heterodyne interferometry)系统撷取信号； 其中外差式干涉技术多引入一道可控之参考信号，对于影像之SNR之提昇比自差式干涉更有效。 另外，论文中也针对近场萤光影像作相关之讨论与量测，并分析探针与萤光分子的电场交互作用及萤光信号的撷取， 期望未来可将本系统应用于分子生物学，得到分子尺度的医学萤光影像。