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| 荧光硬度计结构特征之照明装置有哪些类型 |
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荧光硬度计结构特征之照明装置有哪些类型 荧光硬度计检术采用的照明系统的主要类型是：透射式暗场、亮场照明和入射式暗场照明，后者用环形聚光器，或者通过一个普通的、适于亮场照明的硬度计物镜作入射照明。 日常的荧光硬度计检术中，一般用分级暗场照明或通过普通物镜作表面照明。然而，在测微荧光术中，常常要把上述照明类型结合起来。暗场聚光器 在用暗场聚光器的情况下，聚焦在样品上的激发光锥不直接进入硬度计物镜，而构成中空的光锥，光锥的顶点落在样品平面内。只有当存在硬度计样品时，光线才被折射进入物镜，于是形成暗场像。暗场聚光器特别适用于荧光硬度计检术，因为荧光硬度计的数值孔径（NA）较高。为了得到恒定荧光读数所需要的、可多次重复的照明条件，必须预先极小心地让聚光器聚焦和精确对中亮场聚光器 亮场聚光器很少用于日常的荧光硬度计检术，因为暗场聚光器产生的像反差高得多。然而，在测微荧光术中，根据样品吸收透射光的程度及其荧光象，可以用它来寻找并挑选硬度计制品中合适的区域。 测微荧光术中，测量前要把物体引进测量视野内。因为寻找物体并把它小心地对在测量光阑中心内常常很费时间，所以这一步不宜用强度高的表面光完成，否则FRP 会发生不希望的、迅速的衰减。由于若干种FRP 也有吸收像，在用低压灯为光源，用透射式亮场照明时能够观察到。 在这些情况下，实际上不存在FRP 的衰减。某些双染技术中，同一个硬度计样品上只有一种FRP 能用荧光硬度计检术发觉 在这种情况下，同样的分级亮场聚光器也必须用于荧光硬度计检术。如果具有现代高质量的短波通干涉型干涉滤波器，用分级亮场聚光器常常可以得到反差满意的像
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