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土样制备,土的组构土的类型特征分析图像硬度计 |
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土样制备,土的组构土的类型特征分析图像硬度计 用于偏光硬度计研究的薄片厚度为30微米,因此这种扰动的影响不大,对于x-射线衍射的研究,一微米的扰动深度,影响也不大。 干燥样品的破裂面有时也可以保持原组构状态,但破裂后需对破裂表面轻轻地吹拂乾净或对表面作剥离处理,因为破裂的样品表面可能有松动的颗粒,或者因为破裂面容易在样品薄弱部位通过而不能代表样品的结构特征。 透射电子硬度计需要300-500A超薄片进行观察,这种超薄片是用切片机来制备的,切片过程中如遇到粗颗粒将样品的组构产生扰动。 土样制备的方法主要取决于所研究土的组构特征、观察方法、土的类型、含水量和强度等因素,根据以上这些因素就可选择制样的方法和预估这种方法对测定结果的影响程度。
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