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| 熟料中不同相组分定量分析显微图像硬度计制造 |
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熟料中不同相组分定量分析显微图像硬度计制造要获得熟料中不同相组分的粗略的定量估计，可采用各种不同的积分显微台。薄片或磨片置于载物台上，载物台可借许多显微螺旋中的一个沿特定方向移动。每一个组分配定用一个特定的螺旋，并且要使能够跨过样品的边缘。试样用普通的方法观察，载物台的移动须能使每一含螺旋在方格网上按照其所配定的组分测定其全部交线。这样可得到组分的体积百分数。将这个方法用于波特兰水泥熟料时，因为必须采用高的放大倍率，并且特别是对于问充物质难以鉴别，所以会有很大困难。采用“点数计"系统有许多优点。只要操纵～系列电钮中的一个，就可使载物台移动一定的距离。每个电钮配定一种特定化合物，当方格网的横断面积一经确定，立即按相应的电钮，载物台就自动地移动。在这个方法中，在载物台上的重量要较螺旋法中少得多而试样则保持在焦点上。并且除此之外，当移过可疑颗粒的边缘时，不会产生重复测定，因此避免了回路测定的必要性。当然，确定化合物的困难依然存在。 应用X一射线法来估计化合物的含量已引起人们大量的注意。晶体物质的X一射线图形或衍射图是由不同强度的线条组成的。含有两种或更多物质的混合物中，常常会由于不同化合物的存在而发生某些线条(当然不是所有的线条)的重合。在晶体混合物中，倘使某一种晶体的数量减少，则其图形的总强度也随着减弱，直至后达到即使强的线条也观察不到。因此，，用x一射线方法所能测出的混合物中某一晶体物质的小含量，决定于它的一些强线条的强度和它们的位置与存在着的其他化合物线条的位置相差的程度。通常的规则是属于高度对称的晶体系的晶体物质，如立方晶体，具有比较少的线条但较清晰的图形，而低对称性的晶体物质，则具有较弱的图形，但线条数目较多。高灵敏度的X一射线分光仪能将表观上一根单一的强线分散成一系列晶格间距相近的弱线条，因此而使X一射线分析复杂化。
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